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Single Electron Spin Measurements in Submicron SiMOS-FETs von Ming Xiao (2008, Taschenbuch)
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Titel: Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs | Zusatz: Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance | Medium: Taschenbuch | Autor: Ming Xiao | Sprache: Englisch | Seiten: 124 | Anbieter: Buchbär.