Single Electron Spin Measurements in Submicron SiMOS-FETs von Ming Xiao (2008, Taschenbuch)

Schreiben Sie die ersteRezension.
Preis:
€ 60,90
(inkl. MwSt.)
Kostenloser Versand
Lieferung ca. Fr, 28. Jun - Di, 2. Jul
Rücknahmen:
1 Monat Rückgabe. Käufer zahlt Rückversand. Für eBay Plus-Mitglieder ist der Rückversand im Inland kostenlos. Mehr erfahren.
Artikelzustand:
Neu
Titel: Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs | Zusatz: Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance | Medium: Taschenbuch | Autor: Ming Xiao | Sprache: Englisch | Seiten: 124 | Anbieter: Buchbär.