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SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method 2518 - Bild 1 von 1

SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method von Jignesh Rathod (2014, Taschenbuch)

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For microanalysis the scanning electron microscope (SEM) has been used. Dies gilt insbesondere wenn eine ISBN durch den Verlag doppelt vergeben wurde. Im Einzelfall bzw. 64 pages; 220 x 150 mm. Rechnung legen wir bei.