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Verfahren zur Charakterisierung ultradünner Schichten Christof Koltunski Buch - Bild 1 von 1

Verfahren zur Charakterisierung ultradünner Schichten von Christof Koltunski (2013, Taschenbuch)

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buchbaer-shop (46468)
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Über dieses Produkt

Produktinformation

Die vorliegende Arbeit beschreibt ein neuartiges Kombigerät, das eine visuell unterstützte und ortsaufgelöste, spektroskopische Charakterisierung von ultradünnen Schichten unter Verwendung von polarisiertem Licht ermöglicht. So sollen, durch die Kombination eines Reflexionsspektrometer mit einem abbildenden Ellipsometer, möglichst viele Informationen zur Probe bei einer einzigen Messung erzielt werden. Zunächst werden die physikalischen Grundlagen der einzelnen Messgeräte aufgearbeitet und deren Funktionsweise erläutert. Anschließend werden die wichtigsten opto-mechanischen Baugruppen sowie der Gesamtaufbau des Kombigeräts vorgestellt. Nach der Entwicklung eines geeigneten Kalibrierverfahrens wird der aufgebaute Prototyp an Modelsystemen ultradünner Schichten spezifiziert. Dabei wird speziell die Aggregationsarchitektur eines Zyaninfarbstoffs untersucht. Ein derartiges Gerät könnte in biotechnologischen Fragestellungen, aber auch in der Materialforschung eingesetzt werden, da in vielen Anwendungen der Trend zu kleineren Strukturbreiten geht. So fordert z. B. die Halbleiterindustrie die Verkleinerung von Testflächen auf Wafern, um die nutzbare Fläche zu vergrößern.

Produktkennzeichnungen

ISBN-10
3639058453
ISBN-13
9783639058451
eBay Product ID (ePID)
70191986

Produkt Hauptmerkmale

Produktart
Lehrbuch
Sprache
Deutsch
Anzahl der Seiten
84 Seiten
Verlag
Vdm Verlag Dr. Müller E.K.
Publikationsname
Verfahren zur Charakterisierung Ultradünner Schichten
Autor
Christof Koltunski
Format
Taschenbuch
Erscheinungsjahr
2013

Zusätzliche Produkteigenschaften

Hörbuch
No
Inhaltsbeschreibung
Paperback
Item Length
22cm
Item Height
1cm
Item Width
15cm
Item Weight
143g

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