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Embedded Boundary Scan, for Test and Debug Aijaz Baig Taschenbuch Englisch - Bild 1 von 1

Embedded Boundary Scan, for Test and Debug von Aijaz Baig (2009, Taschenbuch)

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buchbaer (63597)
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Über dieses Produkt

Produktinformation

The boundary scan standard is widely used for testing during the development and production phases. But there is a lack of a standardized mechanism to allow IEEE 1149.1 to be used in a system post installation leading to unaddressed problems like the No-Fault-Found (NFF)issue. One solution is to embed the programmable features of the boundary scan test mechanism into the Unit under test (UUT) thereby enabling the UUT to conduct boundary scan based self tests. In this work, a test and debug framework, which aims to use boundary-scan post system-installation, is the subject of a study and subsequent enhancement. The framework allows embedding much of the test vector deployment and debug mechanism onto the UUT to enable remote testing and debug. This monograph is a description of the phased development of above said framework and its intended usage in the field. Anyone with a basic understanding of Boundary scan and basic programming would be able to understand how boundary scan was embedded and automated in this case and can serve as an example with regards to automating boundary scan based embedded testing.

Produktkennzeichnungen

EAN
9783639187120
ISBN
9783639187120
ISBN-10
3639187121
ISBN-13
9783639187120
eBay Product ID (ePID)
80629777

Produkt Hauptmerkmale

Produktart
Lehrbuch
Sprache
Englisch
Anzahl der Seiten
88 Seiten
Verlag
Vdm Verlag, Vdm
Publikationsname
Embedded Boundary Scan, For Test And Debug
Autor
Aijaz Baig
Format
Taschenbuch
Erscheinungsjahr
2009

Maße

Gewicht
147g

Zusätzliche Produkteigenschaften

Hörbuch
No
Inhaltsbeschreibung
Paperback
Item Length
22cm
Item Height
5mm
Item Width
15cm
Sprachausgabe
Englisch
Seiten
88 Seiten
Item Weight
147g

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