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C Typ Leeb Härteprüfer Schlaggerät Sonde für kleinere dünne Compone ZfP-
US $142,40
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eBay-Artikelnr.:356977730617
Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- Impact device type
- C type
- Brand
- VTSYIQI
- Type
- DL Type Impact Device Probe
- Model
- C Type Impact Device Probe
- MPN
- Impact Device Probe
- Country/Region of Manufacture
- China
- UPC
- 762102888978
Artikelbeschreibung des Verkäufers
Rechtliche Informationen des Verkäufers
UNIFIED_SOCIAL_CREDIT_CODE: 91440300MA5GRK07XM
Info zu diesem Verkäufer
zhangpinguncle
100% positive Bewertungen•40 Artikel verkauft
Angemeldet als gewerblicher Verkäufer
Verkäuferbewertungen (3)
- r***6 (1332)- Bewertung vom Käufer.Letzte 6 MonateBestätigter KaufMy experience, personally, it was the most pleasant and satisfactory purchase to date. The seller was clear with my special shipping need, made the adjustments and it was the fastest processing and delivery I’ve experienced. The item was exactly as described and on time to meet my needs. Bravo +AAAAA+, off the chart perfect, I could not ask for more, sincerely, ‘Thank You’…….!!!!
- a***t (54)- Bewertung vom Käufer.Letzter MonatBestätigter KaufGood Item. Thank you
- a***n (26)- Bewertung vom Käufer.Letzte 6 MonateBestätigter KaufMuy buena calidad.Pie Field indicator 3 PCS Pie Gauge Pie Shaped Magnetic Particle Field Indicator (Nr. 356314176484)