Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching von Gerd Kaupp (2006, Gebundene Ausgabe)

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Titel: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Zusatz: Application to Rough and Natural Surfaces | Medium: Buch | Autor: Gerd Kaupp | Einband: Gebunden | Beilage: Book | Auflage: 2006 | Sprache: Englisch | Seiten: 292 | Abbildungen: 239 Fig., 7 Tabellen | Reihe: NanoScience and Technology | Maße: 245 x 162 x 19 mm | Erschienen: 04.08.2006 | Anbieter: preigu.
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