Telman Aliev "Digital Noise Monitoring of Defect Origin"

Artikelzustand: Sehr gut
EUR 99,90
(inkl. MwSt.)
+ EUR 24,90 Versand
Lieferung ca. Di, 2 Feb - Fr, 19 Feb
Bewährter Verkäufer
Rücknahmen
Keine Rücknahme, aber abgesichert über den eBay-Käuferschutz
Zahlungen
Kreditkarte
Weitere
Kreditkarte
Zahlungshinweise
 
 
Artikelzustand
Sehr gut
Stückzahl
1 verfügbar
Format
Gebundene Ausgabe
Gewicht
481g
ISBN
9780387717531
EAN
9780387717531
Artikelnr.
293266430176
Angebot endet
07. Feb. 2021, 09:38 MEZ

Artikelbeschreibung

"Bild vergrößern. Klasse"EUR 17,39. David Sadava, David M. Hillis, H. Craig Heller, Sally D. Hacker "Purves BiologieEUR 61,39. "Lambacher Schweizer. Sicher in die Oberstufe. ArbeitsheEUR 6,59. Ihre Vorteile."
Alle ansehenArtikelbeschreibung